一次掃描檢查隱藏結構ZEISS METROTOM 1

　　借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務(wù)。測量并檢測接觸式或光學(xué)測量系統無(wú)法檢測到的隱藏缺陷和內部結構。另一個(gè)巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統很容易便能放置于您的測量實(shí)驗室之中，可以一次性完成內部測量和檢查。

　　一個(gè)CT系統，兼具多種優(yōu)勢

　　ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計算機斷層掃描技術(shù)，是升級您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設備。CT系統擁有許多優(yōu)勢：

　　操作簡(jiǎn)便

　　ZEISS METROTOM 1是以用戶(hù)為基礎建造的。安裝過(guò)程簡(jiǎn)單，只需進(jìn)行少量培訓就能使用CT。只需輕輕一點(diǎn)，即可開(kāi)始掃描流程!

　　精準的測量

　　小而徹底：您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣，您可以信賴(lài)您的測量，進(jìn)行準確的數模比對、尺寸檢查和壁厚分析。

　　占地面積小

　　蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長(cháng)) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著(zhù)CT系統適合任何測量實(shí)驗室——可以讓您在公司內部進(jìn)行測量和質(zhì)量保證，而無(wú)需外部測量服務(wù)。

　　投資回報快

　　購置成本低，且得益于合宜的系統維護保養費用，您的設備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線(xiàn)管無(wú)需維護保養。

　　ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠

　　先進(jìn)的CT技術(shù)，用于所有測量實(shí)驗室

　　蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專(zhuān)家，十多年以來(lái)，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統。蔡司計算機斷層掃描系統METROTOM 1現在為每個(gè)人都提供了可靠的X射線(xiàn)技術(shù)和無(wú)損質(zhì)量保證。

　　測量完整組件、 確保零件無(wú)瑕疵

　　使用ZEISS METROTOM 1，您可以在您的測量實(shí)驗室里輕松檢測出工件的隱藏缺陷。無(wú)論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1，您可以檢查各種零件，如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。

　　GOM Volume Inspect

　　全面的3D CT數據分析

　　ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測軟件GOM Volume Inspect(體積檢測)。軟件適合初學(xué)者使用，結合了CT流程的所有階段——從掃描設置和重建，到數據評估和報告。軟件可以精準地評估幾何形狀、孔隙或內部結構和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過(guò)單個(gè)截面圖像看到，并且可以使用多種標準自動(dòng)進(jìn)行評估。只需一個(gè)軟件，您就可以將幾個(gè)組件的體積數據加載到項目中，執行趨勢分析，并將采集到的3D數據與CAD模型進(jìn)行比較等等。

　　應用領(lǐng)域：

　　無(wú)損檢測、一次掃描多個(gè)工件。

　　檢查特點(diǎn)：

　　測量?jì)炔亢屯獠拷Y構、檢查內部缺陷(如縮孔)。